性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備 》的要求電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.3-93(IEC68-2-3)電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Da：交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T423.4-93(IEC68-2-30)GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法GJB150.9-1986《**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法：濕熱試驗(yàn)》GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)恒定濕熱試驗(yàn)》GJB4.6-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)交變濕熱試驗(yàn)》GJB367.2-1987《**通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗(yàn)方法》411 濕熱試驗(yàn)
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